发明名称 Herstellungsverfahren für eine Siliziumcarbid-Halbleitervorrichtung
摘要 <p>Eine ohmsche Elektrode (6) einer Siliziumcarbid-Halbleitervorrichtung wird hergestellt, indem ein ohmscher Metallfilm auf einem Siliziumcarbid-Substrat (1) gebildet wird, indem ein Target, das eine Mischung oder eine Legierung enthält, die in sich Nickel und ein Metall bzw. Metalle trägt, das bzw. die die magnetische Permeabilität von Nickel reduziert bzw. reduzieren und ein Carbid produziert bzw. produzieren, besputtert wird, wobei Mischungsverhältnisse der Mischung oder der Legierung auf vorbestimmte Mischungsverhältnisse eingestellt werden, und indem eine Wärmebehandlung für den ohmschen Metallfilm durchgeführt wird, um den ohmschen Metallfilm zu kalzinieren. Somit kann die ohmsche Elektrode (6), die für die Siliziumcarbid-Halbleitervorrichtung gedacht ist und die Verwendungseffizienz des Targets verbessern kann, hergestellt werden, deren Filmdicke gleichmäßig ist und diese nicht ablöst bzw. nicht abschält.</p>
申请公布号 DE112013001927(T5) 申请公布日期 2015.02.26
申请号 DE20131101927T 申请日期 2013.03.18
申请人 FUJI ELECTRIC CO., LTD. 发明人 RYO, MINA,;NAKAMATA, SHINICHI;FUKUDA, KENJI,;KINOSHITA, AKIMASA,
分类号 H01L21/28;H01L21/285;H01L21/336;H01L29/12;H01L29/78 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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