发明名称 |
Bipolartransistor vom Isolierschichttyp |
摘要 |
<p>Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines IGBT vom Graben-Gate-Typ, der sowohl eine Aufrechterhaltung der Spannungsfestigkeit als auch eine Verringerung der EIN-Zustands-Spannung erzielt und der einen breiten Stromdichtebereich zum Ausführen des Unipolarbetriebs aufweist, und die Schaffung eines Verfahrens zur Herstellung des IGBT vom Graben-Gate-Typ. Der IGBT in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung ist ein SJ-RC-IGBT, der eine Driftschicht mit Superübergangsstruktur enthält, und enthält eine IGBT-Fläche und eine FWD-Fläche auf der hinteren Oberfläche. In dem IGBT in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung weist eine erste Driftschicht (1, 2) eine Störstellenkonzentration von 1·1015 atms/cm3 oder höher und niedriger als 2·1016 atms/cm3 und eine Dicke von 10μm oder größer und kleiner als 50μm auf; und weist eine Pufferschicht (11) eine Störstellenkonzentration von 1·1015 atms/cm3 oder höher und niedriger als 2·1016 atms/cm3 und eine Dicke von 2μm oder größer und kleiner als 15μm auf.</p> |
申请公布号 |
DE112012006441(T5) |
申请公布日期 |
2015.02.26 |
申请号 |
DE20121106441T |
申请日期 |
2012.05.29 |
申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION |
发明人 |
AONO, SHINJI,;MINATO, TADAHARU, |
分类号 |
H01L29/78;H01L27/04;H01L29/739 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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