发明名称 一种自动测试系统的原位自检、计量装置及其方法
摘要 本发明公开了一种自动测试系统的原位自检、计量装置,包含:主控计算机;第一测控组件,与所述主控计算机通过PXI总线连接;第二测控组件,与所述主控计算机通过LXI总线连接;测试接口,分别与所述第一测控组件及第二测控组件连接;电源模块,一端与所述主控计算机连接,其另一端连接所述测试接口;校准仪表,与所述测试接口连接。本发明还公开了一种原位自检方法及原位计量方法。本发明能有效提高自检计量结果的准确性和可靠性,缩短系统自检计量周期,满足自动化和信息化需求。
申请公布号 CN104375024A 申请公布日期 2015.02.25
申请号 CN201410591474.8 申请日期 2014.10.29
申请人 上海无线电设备研究所 发明人 那丽丽;冯云;曲海山;王哲;刘鑫光;龚明
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人 张妍;张静洁
主权项 一种自动测试系统的原位自检、计量装置,其特征在于,基于PXI和LXI混合总线架构,包含:主控计算机;第一测控组件,与所述主控计算机通过PXI总线连接;第二测控组件,与所述主控计算机通过LXI总线连接;测试接口,分别与所述第一测控组件及第二测控组件连接;电源模块,一端与所述主控计算机连接,其另一端连接所述测试接口;校准仪表,与所述测试接口连接。
地址 200090 上海市杨浦区黎平路203号