发明名称 |
存储设备寿命预测、确定方法及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种存储设备寿命预测、确定方法及装置,所述预测方法包括:获取存储设备的累计失效数据块数量,以及,与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数;判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值;当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时,利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型;利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。该方法不再是为存储设备设置一个固定的擦写次数门限值,而是结合存储设备在使用过程中的累计失效数据块数量,以及,累计擦写次数,因此,可以准确确定一个符合该存储设备的实际使用情况的擦写次数阈值。 |
申请公布号 |
CN104376875A |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201410664570.0 |
申请日期 |
2014.11.19 |
申请人 |
华为数字技术(苏州)有限公司 |
发明人 |
余霄;章根林;张睿夫 |
分类号 |
G11C29/10(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/10(2006.01)I |
代理机构 |
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 |
代理人 |
逯长明;许伟群 |
主权项 |
一种存储设备寿命预测方法,其特征在于,所述方法包括:获取存储设备的累计失效数据块数量,以及,与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数;判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值;当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时,利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型;利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。 |
地址 |
215123 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园A3栋 |