发明名称 |
一种高精度紫外光谱辐照度测量系统 |
摘要 |
本发明提供了一种高精度紫外光谱辐照度测量系统,包括紫外漫透射片、汇聚透镜组、入射狭缝、消偏振器、折反镜、紫外分光系统和线阵紫外探测器。所述紫外漫透射片是一片圆形玻璃;所述汇聚透镜组由一块凸透镜和一块凹透镜组成,两块透镜中心轴线重合,组成一个汇聚光学系统用来收集漫透射光,两块透镜前后表面均镀紫外增透膜;所述入射狭缝高度范围为1mm~40mm;所述消偏振器由两块依次放置的延迟器组合而成;所述折反镜表面镀紫外高反膜。所述紫外分光系统采用光栅分光方式。本发明可对紫外光谱辐射照度进行高精度的测量。 |
申请公布号 |
CN104374474A |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201410535632.8 |
申请日期 |
2014.10.11 |
申请人 |
北京振兴计量测试研究所 |
发明人 |
王加朋;任晓婉;孙红胜 |
分类号 |
G01J3/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 |
代理人 |
龚颐雯;马东伟 |
主权项 |
一种高精度紫外光谱辐照度测量系统,包括紫外漫透射片、汇聚透镜组、入射狭缝、消偏振器、折反镜、紫外分光系统和线阵紫外探测器。其特征在于:所述紫外漫透射片是一片圆形玻璃,其直径范围为Φ10mm~Φ200mm;所述汇聚透镜组由一块凸透镜和一块凹透镜组成,两块透镜中心轴线重合,组成一个汇聚光学系统用来收集漫透射光能量,两块透镜前后表面均镀200nm~400nm增透膜,透过率范围为75%~99%,其余波段透过率较低;所述入射狭缝高度范围为1mm~40mm;所述消偏振器由两块依次放置的延迟器组合而成;所述折反镜表面镀高反膜;所述紫外分光系统是采用光栅分光方式,光栅尺寸范围为15mm×15mm~100mm×100mm。 |
地址 |
100074 北京市丰台区云岗北区西里1号院30号 |