发明名称 |
一种测试存储系统容忍坏扇区能力的方法和设备 |
摘要 |
本发明公开了一种测试存储系统容忍坏扇区能力的方法和设备,该方法包括以下步骤:虚拟块设备接收来自上层设备的操作请求;虚拟块设备判断操作请求指定的扇区是否在坏扇区表中,或者,与坏扇区算法匹配,如果是,则设置错误标记,并根据错误标记向上层设备发送扇区错误信息;否则,将操作请求发送给后端存储设备。本发明能够在不影响用户使用的前提下,极大地提高磁盘的可靠性和使用寿命,并在不需要任何特定硬件的情况下,确保在一定时间内覆盖所有测试点,同时兼顾到测试周期、成本和全面性。 |
申请公布号 |
CN104375913A |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201410649525.8 |
申请日期 |
2014.11.14 |
申请人 |
浪潮(北京)电子信息产业有限公司 |
发明人 |
闫永刚;古世磊 |
分类号 |
G06F11/26(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
代理人 |
王丹;李丹 |
主权项 |
一种测试存储系统容忍坏扇区能力的方法,其特征在于,包括以下步骤:虚拟块设备接收来自上层设备的操作请求;所述虚拟块设备判断所述操作请求指定的扇区是否在坏扇区表中,或者,与坏扇区算法匹配,如果是,则设置错误标记,并根据所述错误标记向所述上层设备发送扇区错误信息;否则,将所述操作请求发送给后端存储设备。 |
地址 |
100085 北京市海淀区上地信息路2号2-1号C栋1层 |