发明名称 一种测试存储系统容忍坏扇区能力的方法和设备
摘要 本发明公开了一种测试存储系统容忍坏扇区能力的方法和设备,该方法包括以下步骤:虚拟块设备接收来自上层设备的操作请求;虚拟块设备判断操作请求指定的扇区是否在坏扇区表中,或者,与坏扇区算法匹配,如果是,则设置错误标记,并根据错误标记向上层设备发送扇区错误信息;否则,将操作请求发送给后端存储设备。本发明能够在不影响用户使用的前提下,极大地提高磁盘的可靠性和使用寿命,并在不需要任何特定硬件的情况下,确保在一定时间内覆盖所有测试点,同时兼顾到测试周期、成本和全面性。
申请公布号 CN104375913A 申请公布日期 2015.02.25
申请号 CN201410649525.8 申请日期 2014.11.14
申请人 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 发明人 闫永刚;古世磊
分类号 G06F11/26(2006.01)I 主分类号 G06F11/26(2006.01)I
代理机构 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人 王丹;李丹
主权项 一种测试存储系统容忍坏扇区能力的方法,其特征在于,包括以下步骤:虚拟块设备接收来自上层设备的操作请求;所述虚拟块设备判断所述操作请求指定的扇区是否在坏扇区表中,或者,与坏扇区算法匹配,如果是,则设置错误标记,并根据所述错误标记向所述上层设备发送扇区错误信息;否则,将所述操作请求发送给后端存储设备。
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