一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置

摘要

本发明公开了一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置，其特征是，包括散热底座、测试板和测试器件；所述测试板焊接在散热底座上；所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式，并采用螺丝钉固定接地；所述测试板上焊接有无源元器件。本发明所达到的有益效果：散热底座采用铜底座可以增强电特性和散热特性。测试板和散热底座采用焊接的方式连接，有利于C波段频率下的接地性能。测试器件采用RF2417SPC-E封装,该器件的封装形式和C波段GaN微波功率器件采用了同一种封装形式，从而可以尽量的减小因为封装不同而在匹配上带来的误差。整个装置结构简单，且尽量避免了一切外界因素的干扰，提高了检测的准确度，且成本低，操作起来简易。

主权项

一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置，其特征是，包括散热底座、测试板和封装器件；所述测试板焊接在散热底座上；所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式，并采用螺丝钉固定接地；所述测试板上焊接有无源元器件；所述无源元器件包括输入射频接口、输出射频接口、耦合电容、电阻和滤波电容。