一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置

摘要

本发明提供的是一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置。包括宽谱光源（501）、起偏器（511）、待测偏振器件（522）、光程相关器（530）、差分探测装置（550）、光电信号转换与信号记录装置（560），宽谱光源（501）通过起偏器（511）、第1旋转连接器（521）与待测光纤器件（522）连接，再通过第2旋转连接器（523）与偏振分束Michelson结构光程相关器（530）连接；光程相关器（530）通过第3旋转连接器（541）连接偏振差分探测装置（550）后，与干涉信号检测与处理装置（560）再连接。本发明具有体积小、测量精度高、温度和振动稳定性好等优点，广泛用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析。

主权项

一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置，包括宽谱光源(501)、起偏器(511)、待测偏振器件(522)、偏振分束Michelson结构光程相关器(530)、偏振差分探测装置(550)、光电信号转换与信号记录装置(560)，其特征是：宽谱光源(501)通过起偏器(511)、第1旋转连接器(521)与待测光纤器件(522)连接，再通过第2旋转连接器(523)与偏振分束Michelson结构光程相关器(530)连接；偏振分束Michelson结构光程相关器(530)通过第3旋转连接器(541)连接偏振差分探测装置(550)后，与干涉信号检测与处理装置(560)再连接；旋转第1旋转连接器(521)，使起偏器(511)的输出尾纤与待测光纤器件(522)的输入尾纤偏振特征轴完成0°～0°对准；旋转第3旋转连接器，使偏振分束Michelson结构光程相关器(530)的输出尾纤与偏振差分探测装置(550)的输入尾纤的偏振特征轴实现0°～45°对准角；旋转第2旋转连接器，使待测偏振器件(522)的输出尾纤与偏振分束Michelson结构光程相关器(530)的输入尾纤的偏振特征轴分别实现0°～0°以及0°～45°对准；所述偏振分束Michelson结构光程相关器(530)由2×2偏振分束器(531)、两根保偏光纤(532、534)、法拉第旋转反射镜(533)、法拉第旋转器(535)、自聚焦准直透镜(536)，以及可移动光学反射镜(537)组成；2×2偏振分束器(531)的第1输出端(ps3)通过第1保偏光纤(532)连接法拉第旋转反射镜(533)，组成固定长度光程参考臂(l1)；偏振分束器(531)的第2输出端(ps4)通过第2保偏光纤(534)连接法拉第旋转器(535)，再连接准直透镜(536)，准直透镜(536)后接可移动光学反射镜(537)，组成长度可变光程扫描臂(l2)；所述偏振差分探测装置(550)由1×2偏振分束器(551)、两个光电探测器(552、553)组成；1×2偏振分束器(551)的第1输出尾纤(ps6)连接第1光电探测器(552)，第2输出尾纤(ps7)连接第2光电探测器(553)；线偏振光信号注入到1×2偏振分束器(551)的第1输入尾纤(ps5)的慢轴、即y轴中，信号光仅从第1输出尾纤(ps6)的慢轴中输出；注入到第1输入尾纤(ps5)的快轴、即x轴中，仅从第2输出尾纤(ps7)的快轴中输出。