发明名称 |
一种浆体铺平厚度的测量方法 |
摘要 |
本发明公开了一种浆体铺平厚度的测量方法,包括以下步骤:一:测量浆体的体积V<sub>1</sub>和密度ρ;二:将浆体倾倒在平板上铺平和测量倾倒在平板上浆体的体积V;三:将铺平浆体的外形画在纸上,同时画一个正方形,测量正方形的边长L<sub>1</sub>,并将纸进行拍照打印;测量打印图像的正方形的边长L<sub>2</sub>,计算图像缩放倍率为B=L<sub>1</sub><sup>2</sup>/L<sub>2</sub><sup>2</sup>;在打印出来的图像上剪下铺平浆体的形状和一参考纸片,分别称量两者的重量M<sub>1</sub>和M<sub>2</sub>,计算出参考纸片的面积S<sub>1</sub>,再计算出打印的图像剪下铺平浆体形状的面积S<sub>2</sub>=(M1/M2)×S<sub>1</sub>;计算铺平在平板上的铺平浆体的面积S=S<sub>2</sub>×B;计算出铺平浆体厚度H=V/S。本发明能准确测量出浆体铺平厚度。 |
申请公布号 |
CN104374358A |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201410620973.5 |
申请日期 |
2014.11.05 |
申请人 |
华南理工大学 |
发明人 |
罗云峰;余其俊;韦江雄;李方贤;胡捷;陈镇杉 |
分类号 |
G01B21/08(2006.01)I;G01N33/38(2006.01)I |
主分类号 |
G01B21/08(2006.01)I |
代理机构 |
广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
代理人 |
陈燕娴 |
主权项 |
一种浆体铺平厚度的测量方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一:测量浆体的体积V<sub>1</sub>和密度ρ;步骤二:将浆体倾倒在平板上,并铺平和测量倾倒在平板上浆体的体积V;步骤三:将纸放在铺平的浆体外围,将铺平浆体的外形画在纸上,同时画一个正方形将铺平浆体的形状包围在正方形中,测量正方形的边长L<sub>1</sub>,并将纸进行拍照打印;测量打印出来的图像的正方形的边长L2,计算图像缩放倍率为B=L<sub>1</sub><sup>2</sup>/L<sub>2</sub><sup>2</sup>;在打印出来的图像上剪下铺平浆体的形状和一参考纸片,分别称量两者的重量M<sub>1</sub>和M<sub>2</sub>,并计算出参考纸片的面积S<sub>1</sub>,再计算出打印出来的图像上剪下铺平浆体的形状的面积S<sub>2</sub>=(M<sub>1</sub>/M<sub>2</sub>)×S<sub>1</sub>;计算铺平在平板上的铺平浆体的面积S=S<sub>2</sub>×B;计算出铺平浆体厚度H=V/S。 |
地址 |
510640 广东省广州市天河区五山路381号 |