发明名称 |
光学位移传感器的调整方法及光学位移传感器的制造方法 |
摘要 |
在具有规定的光学系统的光学位移传感器(10)中,调整规定的光学系统使得满足交线条件。规定的光学系统具有:投光模块(9),其用于将光照射至测定对象物(16);受光元件(13),其用于接收来自投光模块(9)的光被测定对象物(16)反射的反射光;受光透镜(14),其位于测定对象物(16)和受光元件(13)之间,用于将反射光成像在受光元件(13)上。在调整方法中,仅使受光透镜(14)在受光透镜(14)的光轴方向(Z<sub>1</sub>方向)以及与受光透镜(14)的光轴方向垂直的方向(X<sub>1</sub>方向)上移动,由此进行调整。 |
申请公布号 |
CN102834692B |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201180015365.6 |
申请日期 |
2011.03.24 |
申请人 |
欧姆龙株式会社 |
发明人 |
山川健太;一柳星文 |
分类号 |
G01C3/06(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01S7/48(2006.01)I;G01S17/48(2006.01)I |
主分类号 |
G01C3/06(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
张艳杰;张浴月 |
主权项 |
一种光学位移传感器的调整方法,该光学位移传感器具有规定的光学系统,且在该光学位移传感器的壳体上固定上述规定的光学系统,其特征在于,上述规定的光学系统具有:投光模块,其用于将光照射至位于规定的测定范围内的测定对象物,受光元件,其用于接收来自上述投光模块的光被上述测定对象物反射的反射光,受光透镜,其位于上述测定对象物和上述受光元件之间,用于将上述反射光成像在上述受光元件上;在上述调整方法中,仅使上述受光元件和上述受光透镜中的上述受光透镜在上述受光透镜的光轴方向以及与上述受光透镜的光轴方向垂直的方向这两个方向上移动,由此调整位置的偏移,以将上述规定的光学系统调整为满足交线条件。 |
地址 |
日本京都府京都市 |