发明名称 |
光掩模制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种光掩模制造方法。根据本发明的方法,首先,采用包含曝光及蚀刻等在内的工艺来形成待检光掩模;随后,在待检光掩模经过清洗后,进行图案检查以确定所述待检光掩模是否能采用修补设备进行修补,当确定所述待检光掩模采用修补设备已无法修补时,基于缺陷的相关信息来判断缺陷是否能通过再加工来消除,并当确定缺陷能通过再加工消除时,基于缺陷的位置对所述待检光掩模重新进行加工处理以消除相应缺陷,并于检验合格后进行贴膜处理。本发明能有效消除孤立且巨大之缺陷,提高光掩模的生产良率。 |
申请公布号 |
CN104375378A |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201310354226.7 |
申请日期 |
2013.08.14 |
申请人 |
上海凸版光掩模有限公司 |
发明人 |
张沧岂 |
分类号 |
G03F1/72(2012.01)I;G03F1/84(2012.01)I |
主分类号 |
G03F1/72(2012.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
李仪萍 |
主权项 |
一种光掩模制造方法,其特征在于,所述光掩模制造方法至少包括:1)采用包含曝光及蚀刻在内的工艺来形成待检光掩模;2)在待检光掩模经过清洗后,进行图案检查以确定所述待检光掩模是否能采用修补设备进行修补;3)当确定所述待检光掩模采用修补设备已无法修补时,基于缺陷的相关信息来判断缺陷是否能通过再加工来消除;4)当确定缺陷能通过再加工消除时,基于缺陷的位置对所述待检光掩模重新进行加工处理以消除相应缺陷,并于检验合格后进行贴膜处理。 |
地址 |
200233 上海市徐汇区宜山路800号 |