发明名称 | 对存储器中的永久错误进行错误识别的电路装置和方法 | ||
摘要 | 对存储器中的永久错误进行错误识别的电路装置和方法。提供用于识别存储器错误的电路装置。该电路装置包括存储器和错误识别电路。该电路装置被构造用于将错误识别代码的码字或者在比特子集中倒置的码字存储在存储器中的存储器位置处并且从存储器中的该存储器位置读出数据字。错误识别电路被构造用于针对施加的控制信号采取第一值的情况,当数据字不是错误识别代码的码字时显示存储器错误。此外该错误识别电路被构造用于针对施加的控制信号采取不同于第一值的第二值并且在所述存储器位置处已写入所述在比特子集中倒置的码字的情况,借助从存储器中读出的数据字确定当所述在比特子集中倒置的码字不是错误识别代码的码字时是否存在存储器错误。 | ||
申请公布号 | CN104376877A | 申请公布日期 | 2015.02.25 |
申请号 | CN201410371682.7 | 申请日期 | 2014.07.31 |
申请人 | 英飞凌科技股份有限公司 | 发明人 | M.格泽尔;S.霍斯普;G.尼斯;K.奥伯伦德尔 |
分类号 | G11C29/44(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/44(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 杜荔南;胡莉莉 |
主权项 | 用于识别存储器错误的电路装置,包括:存储器(Sp;11;23;23a),和错误识别电路(FEm;12;25;74;91;140),其中该电路装置被构造用于将错误识别代码(C)的码字或者在比特子集(M)中倒置的码字存储在存储器(Sp;11;23;23a)中的存储器位置处并且从该存储器(Sp;11;23;23a)中的该存储器位置读出数据字,其中所述错误识别电路(FEm;12;25;74;91;140)被构造用于针对施加的控制信号采取第一值的情况,当所述数据字不是错误识别代码(C)的码字时显示存储器错误,以及其中该错误识别电路(FEm;12;25;74;91;140)被构造用于针对施加的控制信号采取不同于第一值的第二值并且在所述存储器位置处已写入所述在比特子集(M)中倒置的码字的情况,借助从所述存储器(Sp;11;23;23a)中读出的数据字确定当所述在比特子集(M)中倒置的码字不是错误识别代码(C)的码字时是否存在存储器错误。 | ||
地址 | 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号 |