摘要 |
積層型電子部品の導体層の積層方向を正確に判定する積層型電子部品の積層方向判定方法、積層方向判定装置、積層型電子部品の導体層の積層方向を一定方向に揃える積層型電子部品連の製造方法、及び積層型電子部品連の製造装置を提供する。積層型電子部品の積層方向判定装置(3)は、測定手段(11、12)と、判定手段(13)と、を備えている。測定手段(11、12)は、導体層と非導体層とが積層された積層型電子部品(200)を観察するための観察面から検出される赤外線エネルギー量に関する測定値を取得する。判定手段(13)は、測定条件に応じた閾値を設定し、この閾値と測定値とを比較し、その比較結果に基づいて積層型電子部品(200)の導体層の積層方向を判定する。 |