发明名称 超音波診断装置及び超音波探触子の振動子劣化検出方法
摘要 <p>超音波探触子の振動子の劣化を正確に検出する超音波診断装置、超音波探触子の振動子劣化検出方法を提供するために、超音波を送受信する超音波探触子12と、超音波探触子12から受信された反射エコー信号に基づいて断層画像を構成する断層画像構成部22とを備える超音波診断装置において、断層画像における複数の関心領域の輝度を解析する輝度解析部30と、解析された輝度に基づいて、超音波探触子の振動子が劣化しているか否かを判定する判定部34とを備える。</p>
申请公布号 JPWO2013011800(A1) 申请公布日期 2015.02.23
申请号 JP20130524638 申请日期 2012.06.22
申请人 发明人
分类号 A61B8/00 主分类号 A61B8/00
代理机构 代理人
主权项
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