发明名称 半導体装置の製造方法
摘要 <p>シリコン基板(3)上にシリコン酸化膜(4)を介してシリコン層(5)が設けられたSOI基板(6)を形成する。次に、シリコン層(5)の表面に複数の半導体素子(8)を形成する。次に、絶縁性基板(10)の表面に配線(11)を形成する。次に、複数の半導体素子(8)と配線(11)を接続するように、SOI基板(6)と絶縁性基板(10)を貼り合わせる。次に、シリコン基板(3)に水素イオンと希ガスイオンの少なくとも一方を注入して脆化層(12)を形成する。次に、脆化層(12)を境にしてシリコン基板(3)の一部を剥離する。</p>
申请公布号 JPWO2012169060(A1) 申请公布日期 2015.02.23
申请号 JP20130519325 申请日期 2011.06.10
申请人 发明人
分类号 H01L21/02;H01L21/304;H01L21/336;H01L27/12;H01L29/739;H01L29/78;H01L29/786;H01L29/861;H01L29/868 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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