发明名称 細隙灯顕微鏡
摘要 光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。細隙灯顕微鏡1の記憶部102には、被検眼Eの複数の部位のそれぞれに対して、照明系8や観察系6の基準設定条件が対応付けられた基準設定条件情報110があらかじめ記憶されている。検索部121は、操作部104により指定された部位に対応する基準設定条件を基準設定条件情報110から検索する。設定状態取得部122は、照明系8や観察系8の現在の設定状態を取得する。設定状態特定部123は、設定状態取得部122により取得された現在の設定状態のうち、検索部121により検索された基準設定条件と異なるものを特定する。制御部101は、この特定結果に基づく情報を表示部103に表示させる。
申请公布号 JPWO2012172907(A1) 申请公布日期 2015.02.23
申请号 JP20130520478 申请日期 2012.05.16
申请人 株式会社トプコン 发明人 内山 卓巳
分类号 A61B3/135 主分类号 A61B3/135
代理机构 代理人
主权项
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