发明名称 正型光阻组成物,光阻图型之形成方法,高分子化合物
摘要
申请公布号 TWI474114 申请公布日期 2015.02.21
申请号 TW099103986 申请日期 2010.02.09
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 太宰尚宏;平野智之;松宫佑;盐野大寿
分类号 G03F7/039;G03F7/004;C08F220/38;C08F220/28;C08F220/18;H01L21/027 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种正型光阻组成物,其为含有经由酸之作用而增大对硷显影液之溶解性的基材成份(A),及经由曝光而发生酸之酸产生剂成份(B)之正型光阻组成物,其特征为,前述基材成份(A)为含有具有下述通式(a0-1)所表示之结构单位(a0-1)、下述通式(a0-2)所表示之结构单位(a0-2),及下述通式(a1-0-1)所表示之结构单位(a1-0-1)的高分子化合物(A1),相对于构成前述高分子化合物(A1)之全结构单位,前述结构单位(a0-1)之比例为10~40莫耳%,前述结构单位(a0-2)之比例为5~20莫耳%,前述结构单位(a1-0-1)之比例为10~55莫耳%,[式中,R1、R分别独立表示氢原子、碳数1~5之烷基或碳数1~5之卤化烷基,R2、A、B为2价之键结基,R3为其环骨架中含有-SO2-之环式基,R4、X1为酸解离性溶解抑制基]。
地址 日本
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