发明名称 用于缺陷工程的簇离子植入
摘要
申请公布号 TWI474382 申请公布日期 2015.02.21
申请号 TW097113371 申请日期 2008.04.11
申请人 山米奎普公司 发明人 汤马士N 贺斯基;达尔C 杰寇森;华德A 克鲁;卡鲁潘安 塞卡
分类号 H01L21/265 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种用于半导体制造之植入方法,其包含以下步骤:a.建立一CnHm蒸汽或气体流,其中n及m系整数,使得n>1且m0;b.将该蒸汽或气体引入于一离子植入器之离子源中;c.将该蒸汽或气体离子化以形成CnHx+之离子,其中x系一正整数或零;d.将该等离子加速至一n或p型矽基板内之一深度RP;e.将AnRzHx+形式之一掺杂物离子植入至一矽深度R'p<RP,其定义一掺杂矽基板,其中A系一矽内n或p型掺杂物,其选自As、P、B、In或Sb之群组,且其中R表示一分子,其原子成分对矽电晶体形成程序无害,例如Si、Ge、F或C,并且n、x及z系大于或等于零之正整数;f.采用一热处理活化该掺杂矽基板,以补正由该掺杂物离子之植入所导致的缺陷。
地址 美国
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