发明名称 |
测试装置、测试系统、测试复数个电子器件之方法、测试半导体晶粒之方法以及晶粒 |
摘要 |
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申请公布号 |
TWI474015 |
申请公布日期 |
2015.02.21 |
申请号 |
TW094111419 |
申请日期 |
2005.04.11 |
申请人 |
佛姆费克特股份有限公司 |
发明人 |
班哲明N 艾瑞吉;伊格诺Y 坎卓斯;查尔斯A 米勒;A 尼可拉斯 史波克 |
分类号 |
G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
一种测试装置,其包含:一基础控制器,其包含可连接至一测试器之复数个连接器;复数个测试控制器,每一该测试控制器电连接至复数个第二连接器,该等第二连接器可电连接至一电子器件;及一无线构件,其用于在该基础控制器与该测试控制器之间无线传达测试资料。 |
地址 |
美国 |