发明名称 测试装置、测试系统、测试复数个电子器件之方法、测试半导体晶粒之方法以及晶粒
摘要
申请公布号 TWI474015 申请公布日期 2015.02.21
申请号 TW094111419 申请日期 2005.04.11
申请人 佛姆费克特股份有限公司 发明人 班哲明N 艾瑞吉;伊格诺Y 坎卓斯;查尔斯A 米勒;A 尼可拉斯 史波克
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种测试装置,其包含:一基础控制器,其包含可连接至一测试器之复数个连接器;复数个测试控制器,每一该测试控制器电连接至复数个第二连接器,该等第二连接器可电连接至一电子器件;及一无线构件,其用于在该基础控制器与该测试控制器之间无线传达测试资料。
地址 美国