发明名称 Analyseverfahren zur Klassifikationsunterstützung
摘要 Zusammenfassend betrifft die Erfindung ein Analyseverfahren zur Klassifikationsunterstützung, ein Ermittlungsverfahren zur Bestimmung von Analyseparameter YS, Ei, li, &sgr;i für das Analyseverfahren, ein Computerprogrammprodukt und ein optisches Analysesystem zur Klassifikationsunterstützung, bei dem basierend auf ersten und zweiten Eichdaten Analyseparameter YS, Ei, li, &sgr;i festlegbar sind, die nach Regeln der Diskriminanzanalyse eine Klassifikationsunterstützung zur Verfügung stellen, die auf der Basis von Messwerten Pi von optischen Merkmalen i, insbesondere organischer Dispersionen, deren Informationsgehalt zur Klassifikation, insbesondere Krankheitsdiagnose, einen Klassifikationsvorschlag oder Diagnosevorschlag im Vergleich mit einer Schwelle Ys erlauben.
申请公布号 DE102013216362(A1) 申请公布日期 2015.02.19
申请号 DE201310216362 申请日期 2013.08.19
申请人 SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS PRODUCTS GMBH 发明人 KAVSEK, BARBARA;LEDERER, PETER;TAAL, PETER;BOOGAART, JAN VAN DEN
分类号 G01N33/52;G01N15/14;G06F17/10 主分类号 G01N33/52
代理机构 代理人
主权项
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