发明名称 制造单晶的方法
摘要 本发明提供一种制造单晶的方法,所述方法包括:准备具有前表面和背表面的晶种(11);提高所述晶种(11)的所述背表面的表面粗糙度;在所述晶种(11)的所述背表面上形成含碳的涂膜;在所述涂膜与支持台(41)之间具有胶粘剂的情况下使所述涂膜与支持台(41)相互接触;将所述胶粘剂固化以将所述晶种(11)固定到所述支持台(41)上;在所述晶种(11)上生长单晶(52);其中在实施所述生长之前,通过对所述涂膜进行碳化来形成碳膜(22)。
申请公布号 CN102414349B 申请公布日期 2015.02.18
申请号 CN201080019023.7 申请日期 2010.11.12
申请人 住友电气工业株式会社 发明人 西口太郎;佐佐木信;原田真
分类号 C30B23/08(2006.01)I;C30B29/36(2006.01)I 主分类号 C30B23/08(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 陈海涛;樊卫民
主权项 一种制造单晶的方法,所述方法包括:准备具有前表面和背表面的晶种(11)的步骤;提高所述晶种(11)的所述背表面的表面粗糙度的步骤;在所述提高所述背表面的表面粗糙度的步骤之后在所述晶种(11)的所述背表面上形成含碳的涂膜的步骤;在所述涂膜与支持台(41)之间具有胶粘剂的情况下使所述涂膜与支持台(41)相互接触的步骤;将所述胶粘剂固化以将所述晶种(11)固定到所述支持台(41)的步骤;以及在固定到所述支持台(41)的所述晶种(11)上生长所述单晶的步骤,其中在所述生长步骤之前,通过对所述涂膜进行碳化来形成碳膜(22),所述涂膜的表面粗糙度小于其上形成所述涂膜的所述晶种(11)的所述背表面的表面粗糙度。
地址 日本大阪府大阪市