发明名称 化合物半导体装置以及制造该化合物半导体装置的方法
摘要 一种化合物半导体装置,包括:Au合金电极、层间绝缘膜、金属布线、以及氧化膜。所述Au合金电极形成在化合物半导体上。所述层间绝缘膜形成在所述Au合金电极上。所述金属布线通过在所述层间绝缘膜中所形成的接触孔而与所述Au合金电极相连接。所述氧化膜形成在所述Au合金电极和层间绝缘膜之间的界面处,该氧化膜的主成分为所述化合物半导体的构成元素。
申请公布号 CN102254936B 申请公布日期 2015.02.18
申请号 CN201010560427.9 申请日期 2010.11.18
申请人 富士施乐株式会社 发明人 村田道昭;宇佐美浩之;太田恭久;高桥均
分类号 H01L29/201(2006.01)I;H01L29/43(2006.01)I;H01L23/532(2006.01)I;H01L21/285(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L29/201(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 丁业平;张天舒
主权项 一种制造化合物半导体装置的方法,包括:在化合物半导体上形成Au合金电极;在氧化性气体的存在下对所述Au合金电极进行退火,从而在所述Au合金电极的表面上形成氧化膜,该氧化膜的主成分为所述化合物半导体的构成元素;在退火后的所述Au合金电极上形成层间绝缘膜;在所述层间绝缘膜中形成接触孔,同时除去所述氧化膜的一部分;以及在所述接触孔中形成金属布线。
地址 日本东京