发明名称 ゲルマニウムベースの量子井戸デバイス
摘要 A quantum well transistor has a germanium quantum well channel region. A silicon-containing etch stop layer provides easy placement of a gate dielectric close to the channel. A group III-V barrier layer adds strain to the channel. Graded silicon germanium layers above and below the channel region improve performance. Multiple gate dielectric materials allow use of a high-k value gate dielectric.
申请公布号 JP5670473(B2) 申请公布日期 2015.02.18
申请号 JP20120544639 申请日期 2010.12.09
申请人 インテル コーポレイション 发明人 ピラリセッティ,ラヴィ;ジン,ビーン−イー;チュウ−クーン,ベンジャミン;メッツ,マシュー ヴィ.;カヴァリエロス,ジャック ティー.;ラドサヴリエヴィッチ,マルコ;コトルヤー,ローザ;ラハマディ,ウィリー;ムケルジー,ニロイ;デューイ,ギルバート;チャウ,ロバート
分类号 H01L21/338;H01L21/336;H01L21/8238;H01L27/092;H01L27/095;H01L29/06;H01L29/778;H01L29/78;H01L29/812 主分类号 H01L21/338
代理机构 代理人
主权项
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