发明名称 一种实验室测定松散矿岩颗粒移动过程的方法
摘要 本发明公开了一种实验室测定松散矿岩颗粒移动过程的方法,实验测定的结果可用于指导崩落法采矿生产,减少损失与贫化率。本发明采用的设备和材料为:便携式X射线发射机一台;有机玻璃材质放矿箱一个;X射线呈像胶片;坐标纸和X射线防护铅房;选用吸收系数不同的白云石颗粒、磁铁矿石颗粒分别做为岩石颗粒与矿石颗粒。经过放矿呈像过程及呈像时出现的黑度差后处理过程,确定黑度差所在位置的移动就代表了白云石散体内磁铁矿石颗粒的移动过程,从而完成测定松散矿岩内颗粒的移动过程。本发明通过实验室测定松散矿岩移动过程,找到松散矿岩颗粒的移动规律,进而优化采矿结构参数,充分回收矿产资源,提高矿山经济效益。
申请公布号 CN103091343B 申请公布日期 2015.02.18
申请号 CN201310017629.2 申请日期 2013.01.17
申请人 辽宁科技大学 发明人 张国建;由希
分类号 G01N23/04(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 鞍山嘉讯科技专利事务所 21224 代理人 张群
主权项 一种实验室测定松散矿岩移动过程的方法,其特征在于该方法包括以下内容:a.测定设备及材料采用便携式X射线发射机一台,管电压可调范围50Kv至300Kv,管电流可调范围0.5mA至5mA,焦点尺寸1.5mm×3.0mm,辐射角40°;有机玻璃材质放矿箱一个,放矿箱底部开一个出矿口,顶部开放,用来装卸矿岩颗粒;X射线成像胶片;坐标纸;X射线防护铅房,整个实验室测定过程都在防护铅房内进行,人员在X射线透照时位于防护铅房外;b.透照矿岩颗粒选取选用白云石与磁铁矿石两种吸收系数不同的矿岩颗粒,以白云石做为岩石颗粒,磁铁矿石做为矿石颗粒,将白云石散体颗粒装满放矿箱,在白云石散体内放入一个磁铁矿石颗粒;c.放矿成像过程在防护铅房内,放置便携式X射线发射机,并接通射线机控制台,放置放矿箱、装入松散矿岩颗粒,再将裁剪到适当尺寸的X射线成像胶片装入增感屏并紧贴在放矿箱背侧面,放矿箱正侧面对准X射线发射窗口,将X射线发射窗口对准放矿箱中心位置,使X射线穿透放矿箱内松散矿岩后能垂直透照在X射线成像胶片上,X射线发射窗口至放矿箱距离在20cm至40cm之间,布设测定设备完成后,关闭防护铅房,测试人员在铅房外操控X射线控制台,调整X射线机管电压为150Kv、管电流为5mA、曝光时间1.5分钟,按下控制开关等待曝光倒计时结束,该次曝光结束后,打开防护铅房,取出增感屏内X射线成像胶片并记为胶片1,放入显影液中进行15分钟的显影,显影后取出、风干定影,到此,该次透照成像结束,打开出矿口放出100‑500cm<sup>3</sup>的矿岩颗粒,将记为胶片2的X射线成像胶片放入增感屏,关闭防护铅房,测试人员在铅房外操控X射线控制台,调整X射线机管电压为150Kv、管电流为5mA、曝光时间1.5分钟,按下控制开关等待曝光倒计时结束,该次曝光结束后,打开防护铅房,取出增感屏内记为胶片2的X射线成像胶片,放入显影液中进行15分钟的显影,显影后取出、风干定影,到此,该次透照成像结束,打开出矿口放出100‑500cm<sup>3</sup>的矿岩颗粒,将记为胶片3的X射线成像胶片放入增感屏,关闭防护铅房,重复上述步骤,直至将白云石散体内磁铁矿颗粒放出停止,到此得到n张带有黑度差的X射线成像胶片;d.成像后处理跟随放矿过程,对放矿箱内松散矿岩透照得到一系列记为1、2、3、4、……、n的胶片,由于白云石散体与磁铁矿石颗粒具有不同的吸收系数,成像时就会出现黑度差,每张胶片尺寸一样,所以黑度差所在位置的移动就代表了白云石散体内磁铁矿石颗粒的移动过程,将胶片1中白色区域中心所在位置描绘在坐标纸A上记为P1,将胶片2中白色区域中心所在位置描绘在同一张坐标纸A上记为P2,同样的方法将胶片n中白色区域中心所在位置描绘在同一张坐标纸A上记为Pn,描绘完后将坐标纸A上所有点P1、P2、……、Pn用折线连接,该折线就代表了磁铁矿石颗粒在白云石散体内的移动过程,从而完成对松散矿岩内颗粒移动过程的测定。
地址 114044 辽宁省鞍山市高新区千山路185号
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