发明名称 半導体エピタキシャルウェーハの製造方法、半導体エピタキシャルウェーハ、および固体撮像素子の製造方法
摘要 A method of producing a semiconductor epitaxial wafer 100 according to the present invention includes a first step of irradiating a semiconductor wafer 10 with cluster ions 16 to form a modifying layer 18 formed from a constituent element of the cluster ions 16 in a surface portion 10A of the semiconductor wafer; and a second step of forming an epitaxial layer 20 on the modifying layer 18 of the semiconductor wafer 10.
申请公布号 JP5673811(B2) 申请公布日期 2015.02.18
申请号 JP20130514962 申请日期 2012.03.19
申请人 株式会社SUMCO 发明人 門野 武;栗田 一成
分类号 H01L21/322;H01L21/20;H01L21/265;H01L27/14 主分类号 H01L21/322
代理机构 代理人
主权项
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