发明名称 Aparato para determinar la topología de la superficie de una parte de los dientes
摘要 <p>Aparato (150) para determinar la topología de la superficie de una parte de los dientes (164), que comprende: un elemento de exploración con una superficie de detección; una unidad de iluminación (154A, 154B, 154C, 156) para proporcionar un conjunto de rayos de luz incidente (158) transmitidos hacia la parte de los dientes (164) a lo largo de una trayectoria óptica a través del citado elemento de exploración para generar puntos iluminados (170A, 170B, 170C) sobre dicha parte de los dientes (26, 164), en el que el conjunto de rayos de luz incidente (158) se produce dividiendo un rayo de luz principal (152), estando compuesto el rayo de luz principal (152) de diferentes componentes de luz (A, B, C) generadas por distintos emisores de luz (154A, 154B, 154C), diferenciándose entre sí las diferentes componentes de luz (A, B, C) por su longitud de onda; una óptica de enfoque de luz (162) que define más de un plano focal (PA, PB, PC) delante de dicha superficie de detección en una posición variable mediante dicha óptica (162), presentando cada rayo de luz (158A, 158B, 158C) su foco en uno de dicho más de un plano focal (PA, PB, PC), presentando dichas componentes (A, B, C) de cada rayo de luz un plano focal diferente; un mecanismo de desplazamiento acoplado a dicha óptica de enfoque (162) para desplazar dicho más de un plano focal (PA, PB, PC) respecto a la parte de los dientes (164) a lo largo de un eje definido por la propagación de los rayos de luz incidente (158A, 158B, 158C); un detector (176) que tiene un conjunto de espectrofotómetros para medir la intensidad de cada uno de una pluralidad de rayos de luz devueltos (172) que vuelven desde dichos puntos (170A, 170B, 170C) propagándose a través de una trayectoria óptica opuesta a la de los rayos de luz incidente (158A, 158B, 158C); un procesador conectado a dicho detector (176) para determinar, para cada rayo de luz (158A, 158B, 158C), una posición específica del punto, siendo la posición del plano focal respectivo de dicho más de un plano focal (PA, PB, PC) la que da la máxima intensidad medida de por lo menos un componente del rayo de luz devuelto (158A, 158B, 25 158C) y, en base a las posiciones específicas del punto determinadas, generar datos representativos de la topología de la parte de los dientes (164).</p>
申请公布号 ES2529171(T3) 申请公布日期 2015.02.17
申请号 ES20050077356T 申请日期 1999.08.05
申请人 ALIGN TECHNOLOGY, INC. 发明人 BABAYOFF, NOAM;GLASER-INBARI, ISAIA
分类号 A61C9/00;A61B1/24;A61B5/107;A61C13/00;A61C19/04;G01B11/24 主分类号 A61C9/00
代理机构 代理人
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