发明名称 使用特制印刷方法的多重柱电子束检测;MULTI-COLUMN ELECTRON BEAM INSPECTION THAT USES CUSTOM PRINTING METHODS
摘要 一种测试光罩印刷错误的方法,包含将一光罩印刷划分成子区域并以一不同的(例如,电子)射束柱检查每一子区域,每一子区域在一校准程序期间均对齐一射束柱轴线。不同的子区域可以在一晶圆平面上的不同光罩印刷上接受检测。
申请公布号 TW201507046 申请公布日期 2015.02.16
申请号 TW103117594 申请日期 2014.05.20
申请人 罗 涛 发明人 罗 涛
分类号 H01L21/66(2006.01);G01N23/225(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 代理人 阎启泰林景郁
主权项
地址 新加坡