发明名称 |
使用特制印刷方法的多重柱电子束检测;MULTI-COLUMN ELECTRON BEAM INSPECTION THAT USES CUSTOM PRINTING METHODS |
摘要 |
一种测试光罩印刷错误的方法,包含将一光罩印刷划分成子区域并以一不同的(例如,电子)射束柱检查每一子区域,每一子区域在一校准程序期间均对齐一射束柱轴线。不同的子区域可以在一晶圆平面上的不同光罩印刷上接受检测。 |
申请公布号 |
TW201507046 |
申请公布日期 |
2015.02.16 |
申请号 |
TW103117594 |
申请日期 |
2014.05.20 |
申请人 |
罗 涛 |
发明人 |
罗 涛 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01);G01N23/225(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
阎启泰林景郁 |
主权项 |
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地址 |
新加坡 |