| 摘要 |
より正確な角膜表面モデリング、パキメトリマップ、ケラトメトリ値、および角膜度数のための手法を含む、角膜の光干渉断層撮像における精度向上のためのシステムおよび方法を提示する。これらの方法には、新たなスキャンパターン、目の追跡機構による横断方向の運動のフィードバック、および先進的な運動補正アルゴリズム等が含まれる。一実施形態において、これらの方法は、第１の間引きデータセットを取得すること、このデータを用いて角膜表面モデルを作成すること、このモデルを用いてより密な第２の取得データセットを記録することからなる。また、この第２のデータセットを用いることにより、パキメトリマップ、ケラトメトリ値、および角膜度数の情報を生成可能な角膜のより正確な運動補正モデルを作成する。さらに、光干渉断層データから模擬的なケラトメトリの値を決定するとともに、３つの軸周りの回転および角膜先端の両者を用いて追跡および記録を改善する方法を提示する。 |
