发明名称 化学机械硏磨垫及使用其之化学机械硏磨方法
摘要 本发明提供一种可兼顾CMP中之被研磨面之平坦性提高与研磨缺陷(刮痕)之减低的化学机械研磨垫、及使用该化学机械研磨垫之化学机械研磨方法。;本发明之化学机械研磨垫之特征,系具有由组成物所形成之研磨层,该组成物含有树脂与非离子性界面活性剂,且前述非离子性界面活性剂之含有比例相对于前述树脂100质量份为0.1质量份以上且5质量份以下。前述非离子性界面活性剂之HLB值较好为5以上且18以下。
申请公布号 TW201506140 申请公布日期 2015.02.16
申请号 TW103118092 申请日期 2014.05.23
申请人 JSR股份有限公司 发明人 横井胜孝;新美优嗣;田野裕之;山村哲也
分类号 C09K3/14(2006.01);B24B37/24(2012.01) 主分类号 C09K3/14(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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