| 摘要 |
<p>Es wird ein Verfahren zum Vermessen von Flächenpunkten (A, B, C, M) auf einer ebenen Fläche (1) beschrieben, wobei die Koordinaten (XA, YA; XM, YM) der zu ver¬messenden, Begrenzungslinien bestimmenden Flächenpunkte (A, B, C, M) bezüglich zweier auf die Fläche (1) projizierter Koordinatenachsen (X, Y) eines Bezugskoordi¬natensystems gemessen werden. Um einfache Vermessungsbedingungen zu schaf¬fen, wird vorgeschlagen, dass auf einem Bildschirm (9) mit das Bezugskoordinaten¬system abbildenden Koordinatenachsen (x, y) den zu vermessenden Flächenpunk¬ten (A) entsprechende Bildpunkte (a‘) in den jeweiligen Quadranten des Koordina¬tensystems eingegeben und den eingegebenen Bildpunkten (a‘) die gemessenen Koordinaten (XA, YA) zugeordnet werden, dass anhand der eingegebenen Koordina¬ten (XA, YA) die Bildpunkte (a) in ihrer Lage bezüglich der Koordinatenachsen (x, y) auf dem Bildschirm (9) maßstäblich angezeigt werden, und dass nach einer Eingabe der entsprechend der Begrenzungslinien zu verbindenden Bildpunkte (a, b, c, m) ein Datensatz zur maschinellen Bearbeitung von in ihrer Umrissform durch die Begren¬zungslinien bestimmten Werkstücken (11) erstellt wird.</p> |
