发明名称 | 用于集成电路的工作参数监视器 | ||
摘要 | 本发明涉及用于集成电路的工作参数监视器。以环形振荡器(22)的形式为集成电路(2)提供一个或多个监视电路(14、16、18、20)。这些环形振荡器(22)包括包含在泄露模式下工作的限流晶体管(42)的多个三态反相器(24、26、28)。通过晶体管(42)的泄漏电流取决于被监视的集成电路(2)的工作参数。因此,环形振荡器(22)的振荡频率F<sub>OSC</sub>根据要测量的工作参数而变化。 | ||
申请公布号 | CN102072781B | 申请公布日期 | 2015.02.11 |
申请号 | CN201010535112.9 | 申请日期 | 2010.11.03 |
申请人 | ARM有限公司 | 发明人 | G·M·耶里克 |
分类号 | G01K7/01(2006.01)I | 主分类号 | G01K7/01(2006.01)I |
代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人 | 李晓冬 |
主权项 | 一种监视集成电路的工作参数的方法,所述方法包括步骤:用包括多个串联反相级的环形振荡器在振荡频率下生成振荡信号;使所述反相级中的至少一个工作,以使得向所述反相级供应电流的至少一个晶体管限制所述反相级中的电流和输出信号转换速率,从而控制所述振荡频率;以及向所述晶体管供应栅电压以使所述晶体管在泄漏模式下工作,在该泄漏模式下,通过所述晶体管的基本上所有电流都是由于电流泄漏产生的;其中所述工作参数控制所述电流泄漏的幅值,以使得所述振荡频率取决于所述工作参数,所述工作参数是所述栅电压的阈值,在该阈值处所述泄漏电流基本上为零。 | ||
地址 | 英国剑桥郡 |