发明名称 一种鳍式场效应晶体管的制造方法
摘要 本发明提供一种鳍式场效应晶体管的制造方法,在回刻蚀介质层以形成鳍部之间的浅沟槽隔离结构之前,先形成盖层,相当于增加浅沟槽填充物的宽度,来改善浅沟槽填充物的形貌,降低回刻蚀窗口的深宽比,从而改善回刻蚀后浅沟槽隔离结构表面的平坦度,最终提高鳍式场效应晶体管的器件性能。
申请公布号 CN104347427A 申请公布日期 2015.02.11
申请号 CN201410620002.0 申请日期 2014.11.05
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 鲍宇
分类号 H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 王宏婧
主权项 一种鳍式场效应晶体管的制造方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成硬掩膜层;选择性蚀刻所述硬掩膜层和所述半导体衬底,以形成鳍部,所述鳍部两侧形成有浅沟槽而上表面仍然覆盖所述硬掩膜层;在所述浅沟槽中填充介质层,所述介质层的上表面与所述硬掩膜上表面平坦一致;去除所述硬掩膜层,并在所述介质层和暴露出的鳍部表面形成盖层;采用回刻蚀工艺完全去除盖层并部分去除所述介质层,至所述鳍部上表面距离所述介质层上表面的预定高度。
地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号