发明名称 绝缘栅双极型晶体管IGBT制造方法
摘要 本发明提供一种IGBT制造方法,包括:在N型基片的正面和背面的表面上形成氧化层;形成位于N型基片背面的表面内的缓冲层;在氧化层的表面上形成保护层;去除覆盖在所述N型基片正面上的保护层和氧化层,保留N型基片背面的氧化层和保护层,以保护所述N型基片的背面;形成正面IGBT结构并在其表面上粘贴保护膜,以保护所述正面IGBT结构;去除覆盖在N型基片背面上的保护层和氧化层;形成背面IGBT结构和背面金属层;去除覆盖在所述正面IGBT结构表面上的保护膜。通过本发明提供的IGBT制造方法能够实现对具备双面结构的IGBT的制造。
申请公布号 CN104347399A 申请公布日期 2015.02.11
申请号 CN201310317624.1 申请日期 2013.07.25
申请人 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 发明人 潘光燃;石金成;王焜;文燕;高振杰
分类号 H01L21/331(2006.01)I 主分类号 H01L21/331(2006.01)I
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人 刘芳
主权项 一种绝缘栅双极型晶体管IGBT制造方法,其特征在于,包括: 在N型基片的正面和背面的表面上形成氧化层,所述氧化层包括第一氧化层和第二氧化层,所述第一氧化层为覆盖在所述N型基片正面表面上的所述氧化层,所述第二氧化层为覆盖在所述N型基片背面表面上的所述氧化层; 通过注入N型杂质并高温扩散,形成位于所述N型基片背面的表面内的缓冲层; 在所述第一氧化层和所述第二氧化层的表面上,形成保护层; 去除覆盖在所述N型基片正面上的保护层和所述第一氧化层,并保留所述第二氧化层和位于所述第二氧化层表面上的保护层,以保护所述N型基片的背面; 根据预设的第一工艺流程,形成位于所述N型基片正面的表面上和表面内的正面IGBT结构,并在所述正面IGBT结构的表面上粘贴保护膜,以保护所述正面IGBT结构; 去除覆盖在所述N型基片背面上的所述保护层和所述第二氧化层,以露出所述缓冲层的表面; 根据预设的第二工艺流程,形成位于所述缓冲层表面内的背面IGBT结构; 根据预设的第三工艺流程,形成位于所述背面IGBT结构表面上的背面金属层; 去除覆盖在所述正面IGBT结构表面上的保护膜。 
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