发明名称 内存测试系统及方法
摘要 一种内存测试系统及方法,应用于计算机中,该计算机包括内存及操作系统。该方法包括步骤:在计算机的主板上通过GPIO设置跳帽,并将计算机上电进行系统初始化;检测主板上GPIO的电平是否为低电平;当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上;当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;执行内存测试程序来测试没有被映射的内存部分;检测内存是否全部测试完毕;当还有内存没有被测试,通过修改GPIO上的跳帽设置改变GPIO的电平。实施本发明,能够将操作系统使用的虚拟地址映射到不同的物理内存地址上,从而完整地测试到计算机的整个物理内存。
申请公布号 CN104346275A 申请公布日期 2015.02.11
申请号 CN201310342628.5 申请日期 2013.08.07
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 彭爽
分类号 G06F11/36(2006.01)I 主分类号 G06F11/36(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种内存测试系统,运行于计算机中,该计算机包括内存及操作系统,其特征在于,所述的内存测试系统包括:初始化模块,用于在计算机的主板上通过GPIO设置一个跳帽,以及将计算机上电进行系统初始化操作;电平检测模块,用于检测计算机的主板上GPIO的电平是低电平还是高电平,当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上,当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;内存测试模块,用于执行内存测试程序指令来测试没有被映射的内存部分,以及检测检测内存是否全部被测试到;以及电平修改模块,用于当还有部分内存没有被测试到,通过修改GPIO上的跳帽设置来改变GPIO的电平。
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