发明名称 |
内存测试系统及方法 |
摘要 |
一种内存测试系统及方法,应用于计算机中,该计算机包括内存及操作系统。该方法包括步骤:在计算机的主板上通过GPIO设置跳帽,并将计算机上电进行系统初始化;检测主板上GPIO的电平是否为低电平;当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上;当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;执行内存测试程序来测试没有被映射的内存部分;检测内存是否全部测试完毕;当还有内存没有被测试,通过修改GPIO上的跳帽设置改变GPIO的电平。实施本发明,能够将操作系统使用的虚拟地址映射到不同的物理内存地址上,从而完整地测试到计算机的整个物理内存。 |
申请公布号 |
CN104346275A |
申请公布日期 |
2015.02.11 |
申请号 |
CN201310342628.5 |
申请日期 |
2013.08.07 |
申请人 |
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人 |
彭爽 |
分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种内存测试系统,运行于计算机中,该计算机包括内存及操作系统,其特征在于,所述的内存测试系统包括:初始化模块,用于在计算机的主板上通过GPIO设置一个跳帽,以及将计算机上电进行系统初始化操作;电平检测模块,用于检测计算机的主板上GPIO的电平是低电平还是高电平,当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上,当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;内存测试模块,用于执行内存测试程序指令来测试没有被映射的内存部分,以及检测检测内存是否全部被测试到;以及电平修改模块,用于当还有部分内存没有被测试到,通过修改GPIO上的跳帽设置来改变GPIO的电平。 |
地址 |
518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |