发明名称 |
鳍式场效应管的形成方法 |
摘要 |
一种鳍式场效应管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面形成有牺牲层;在所述半导体衬底表面形成第一侧墙,所述第一侧墙位于牺牲层两侧;在所述半导体衬底表面形成第二侧墙,所述第二侧墙位于形成有第一侧墙的牺牲层两侧;去除牺牲层;刻蚀第一侧墙或第二侧墙,使得相邻第一侧墙的距离与相邻第二侧墙的距离相等;以第一侧墙和第二侧墙为掩膜,刻蚀半导体衬底形成鳍部;去除位于鳍部表面的第一侧墙及第二侧墙。本发明形成的鳍式场效应管具有较小宽度的鳍部,鳍部的宽度与第一侧墙及第二侧墙的宽度之和相同,且鳍部顶端两侧的圆滑度一致,形成的鳍式场效应管性能得到提高。 |
申请公布号 |
CN104347421A |
申请公布日期 |
2015.02.11 |
申请号 |
CN201310342056.0 |
申请日期 |
2013.08.07 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
韩秋华 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面形成有牺牲层;在所述半导体衬底表面形成第一侧墙,所述第一侧墙位于牺牲层两侧;在所述半导体衬底表面形成第二侧墙,所述第二侧墙位于形成有第一侧墙的牺牲层两侧;去除牺牲层;测量相邻第一侧墙的距离为第一宽度,测量相邻第二侧墙的距离为第二宽度;若所述第一宽度与第二宽度不相等,对应刻蚀第一侧墙或第二侧墙,直至第一宽度与第二宽度相等;以第一侧墙和第二侧墙为掩膜,刻蚀半导体衬底形成鳍部;去除位于鳍部表面的第一侧墙及第二侧墙。 |
地址 |
100176 北京市大兴区经济技术开发区文昌大道18号 |