发明名称 附黏着膜之半导体晶片的制造方法、用于该制造方法的半导体用黏着膜以及半导体装置的制造方法
摘要
申请公布号 TWI473151 申请公布日期 2015.02.11
申请号 TW097138933 申请日期 2008.10.09
申请人 日立化成股份有限公司 发明人 畠山惠一;中村佑树
分类号 H01L21/304;C09J7/02 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 一种附黏着膜之半导体晶片的制造方法,包括:准备积层体的步骤,上述积层体是依序将半导体晶圆、半导体用黏着膜以及切割保护胶带加以积层而成,上述半导体用黏着膜具有1μm~15μm范围的厚度且具有小于5%的拉伸断裂伸长率,此拉伸断裂伸长率小于最大负荷时的伸长率的110%,并且上述半导体晶圆具有改质部,上述改质部是藉由照射雷射光而形成并用来将上述半导体晶圆分割成多个半导体晶片;将上述切割保护胶带朝着上述多个半导体晶片相互分离的方向进行拉伸,在不分割上述半导体用黏着膜的情况下将上述半导体晶圆分割成上述多个半导体晶片的步骤;以及将上述多个半导体晶片分别朝着上述积层体的积层方向拾取,藉此将上述半导体用黏着膜加以分割而获得附黏着膜之半导体晶片的步骤。
地址 日本