| 发明名称 | 磁传感器测试装置和方法 | ||
| 摘要 | 提供一种磁传感器测试装置和磁传感器测试方法。该磁传感器测试装置包括被配置成产生磁场的垂直线圈和至少一个外围线圈。磁传感器测试装置和方法可以测试半导体晶片上的磁传感器。 | ||
| 申请公布号 | CN104345292A | 申请公布日期 | 2015.02.11 |
| 申请号 | CN201410126752.2 | 申请日期 | 2014.03.31 |
| 申请人 | 美格纳半导体有限公司 | 发明人 | 廉基福;崔永培;成咏锡;陈景奭 |
| 分类号 | G01R35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R35/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 王萍;李春晖 |
| 主权项 | 一种磁传感器测试装置，包括：磁传感器；垂直线圈；以及至少一个外围线圈。 | ||
| 地址 | 韩国忠清北道 | ||