发明名称 |
伪造印文的检验方法以及记录介质 |
摘要 |
本发明涉及伪造印文的检验方法,具体而言,通过原件印章生成(ST-110)基准印文的生成阶段(ST-101);对比上述生成阶段(ST-101)生成的基准印文和比较印文,运算(ST-140)比较印文对基准印文的特性值的运算阶段(ST-121)组成。通过实验结果,不仅可以识别蚀刻在锌板或树脂板仿造的印章盖印的伪造印文,还可以识别通过计算机仿刻方法仿造的印章盖印的伪造印文。在各类刑事和民事案件中,判断文件上所盖印印文的伪造与否时提供客观的依据,有效防止肉眼或显微镜下观察时可能出现的错误。 |
申请公布号 |
CN102194125B |
申请公布日期 |
2015.02.11 |
申请号 |
CN201010576485.0 |
申请日期 |
2010.11.25 |
申请人 |
大韩民国(管理部署:行政安全部国立科学搜查研究院长) |
发明人 |
李仲;李永洙;金俊奭;文基雄;朴昞旭 |
分类号 |
G06K9/62(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/62(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
张欣 |
主权项 |
一种伪造印文的检验方法,其特征在于,包括:生成阶段(ST‑101),从原件印章生成(ST‑110)基准印文,从原件印章生成(ST‑120)对比印文;运算阶段(ST‑121),将对比印文和基准印文相对比以运算(ST‑130)对比印文对基准印文的特性值,且将比较印文和基准印文相对比以运算(ST‑140)比较印文对基准印文的特性值(ST‑140);以及比较阶段(ST‑150),将运算得到的对比印文对基准印文的特性值与运算得到的比较印文对基准印文的特性值进行比较,其中上述特性值包括对比基准印文运算的填充率和/或出错率,上述对比印文填充率的运算式为<img file="FDA0000553844240000011.GIF" wi="691" he="163" />其中n(A)为基准印文的盖印领域面积,n(B)为对比印文盖印领域的面积,n(B<sub>out</sub>)为不属于基准印文盖印领域的对比印文的盖印领域面积,上述比较印文填充率的运算式为<img file="FDA0000553844240000012.GIF" wi="691" he="163" />其中n(A)为基准印文的盖印领域面积,n(B)为比较印文的盖印领域面积,n(B<sub>out</sub>)为不属于基准印文盖印领域的比较印文的盖印领域面积,上述对比印文出错率的运算式为<img file="FDA0000553844240000013.GIF" wi="514" he="141" />其中n(B<sub>out</sub>)为不属于基准印文盖印领域的对比印文盖印领域的面积,n(B)为对比印文盖印领域的面积,上述比较印文出错率的运算式为<img file="FDA0000553844240000014.GIF" wi="516" he="141" />其中n(B<sub>out</sub>)为不属于基准印文盖印领域的比较印文盖印领域的面积,n(B)为比较印文的盖印领域面积。 |
地址 |
韩国首尔 |