对点测量装置

摘要

对点测量装置，包括半圆框架，调整杆和定点顶针，所述的半圆框架至少有两个，所述的调整杆至少有两个，调整杆均通过通孔连接在所述的半圆框架上，所述的调整杆上设有紧固螺丝，所述的紧固螺丝分别位于调整杆与半圆框架交叉位置和其底部，位于调整杆与半圆框架交叉处的紧固螺丝穿透通孔壁并抵住半圆框架，位于调整杆底部的紧固螺丝穿透调整杆连通凹陷孔，所述的半圆框架的横轴上设有刻度尺。本发明创造提出的对点测量装置能测出处于不同平面上的两个点的距离，克服了直尺测量的缺陷，具有实用性。

主权项

对点测量装置，包括半圆框架、调整杆和定点顶针，其特征在于：所述的半圆框架至少有两个，所述的调整杆至少有两个，所述的调整杆通过通孔与半圆框架连接，调整杆底部还设有凹陷孔，所述的定点顶针插在凹陷孔内，所述的调整杆上还设有紧固螺丝，所述的紧固螺丝分别位于调整杆与半圆框架的交叉处和调整杆底部，位于调整杆与半圆框架交叉处的紧固螺丝穿透通孔壁并抵住半圆框架，位于调整杆底部的紧固螺丝穿透调整杆连通凹陷孔，所述的半圆框架的横轴上设有刻度尺。