一种高分子材料的评价方法

摘要

本发明提供一种高分子材料的评价方法，所述高分子材料包含高分子化合物和填料，至少所述高分子材料的上表面为平坦的表面，所述方法包括：使用聚焦离子束沿相对于所述高分子材料的上表面为1至80°角的方向切割所述高分子材料的上表面；然后沿垂直于通过所述切割形成的所述高分子材料的平滑表面的方向拍摄所述平滑表面；将通过拍摄所述高分子材料的所述平滑表面获得的图像转化为高分子化合物部分和填料部分的二值化图像。本发明的有益效果：根据本发明，上述构成能够检测可转化为数字的高分子材料的截面的高精度图像，结果，可实现其中可快速和定量地评价高分子材料中的填料的分散状态。

主权项

一种高分子材料的评价方法，所述高分子材料包含高分子化合物和填料，至少所述高分子材料的上表面为平坦的表面，所述方法包括,使用聚焦离子束沿相对于所述高分子材料的上表面为1至80°角的方向切割所述高分子材料的上表面；然后沿垂直于通过所述切割形成的所述高分子材料的平滑表面的方向拍摄所述平滑表面。