发明名称 一种集成于发控设备的板卡功能组合检测电路
摘要 本发明提出的板卡功能组合检测电路,由电磁继电器K<sub>1</sub>、限流电阻R<sub>1</sub>、限流电阻R<sub>2</sub>和光电耦合器G<sub>1</sub>组成;电压信号有V<sub>1</sub>/V<sub>1</sub>GND~V<sub>3</sub>/V<sub>3</sub>GND;该电路具有9个对外接点T<sub>1</sub>~T<sub>9</sub>,其集成于发控设备内部。在需要进行设备自检的时候,从对外接口的T<sub>1</sub>~T<sub>9</sub>接点输入模拟量、数字量、串行交互数据等,即可完成板卡功能组合检测。
申请公布号 CN104331065A 申请公布日期 2015.02.04
申请号 CN201410531719.8 申请日期 2014.10.10
申请人 中国航天科技集团公司第四研究院第四十一研究所 发明人 王晓晖;纪浩;龚俊宇
分类号 G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B23/02(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 高燕燕;仇蕾安
主权项 一种集成于发控设备的板卡功能组合检测电路,其特征在于,该电路包括电磁继电器K<sub>1</sub>、限流电阻R<sub>1</sub>和限流电阻R<sub>2</sub>以及光电耦合器G<sub>1</sub>;该电路的供电信号包括三路,分别为正电压信号V<sub>1</sub>和负电压信号V<sub>1</sub>GND,正电压信号V<sub>2</sub>和负电压信号V<sub>2</sub>GND、正电压信号V<sub>3</sub>和负电压信号V<sub>3</sub>GND;所述电磁继电器K<sub>1</sub>具有线包B<sub>1</sub>、常开触点K<sub>1‑1</sub>及其公共端COM<sub>1‑1</sub>、常开触点K<sub>1‑2</sub>及其对应公共端COM<sub>1‑2</sub>;所述光电耦合器G<sub>1</sub>具有4个管脚,分别为1号管脚~4号管脚;所述正电压信号V<sub>1</sub>与常开触点K<sub>1‑1</sub>连接,正电压信号V<sub>1</sub>通过限流电阻R<sub>1</sub>与常开触点K<sub>1‑2</sub>连接;公共端COM<sub>1‑2</sub>连接至光电耦合器G<sub>1</sub>的1号管脚,光电耦合器G<sub>1</sub>的3号管脚连接负电压信号V<sub>1</sub>GND;正电压信号V<sub>2</sub>通过限流电阻R<sub>2</sub>与光电耦合器G<sub>1</sub>的2号管脚连接;光电耦合器G<sub>1</sub>的4号管脚连接负电压信号V<sub>2</sub>GND;该检测电路集成于发控设备中,所述检测电路与发控设备的检测接口中的9个接点连接,分别为接点T<sub>1</sub>~接点T<sub>9</sub>;接点T<sub>1</sub>与线包B<sub>1</sub>的负输入端连接,线包B<sub>1</sub>的正输入端与正电压信号V<sub>3</sub>连接;接点T<sub>2</sub>与光电耦合器G<sub>1</sub>的2号管脚连接;接点T<sub>3</sub>与负电压信号V<sub>3</sub>GND连接;接点T<sub>4</sub>与负电压信号V<sub>1</sub>GND连接;接点T<sub>5</sub>与公共端COM<sub>1‑1</sub>连接;接点T<sub>6</sub>和接点T<sub>9</sub>通过内部连线短接;接点T<sub>7</sub>和接点T<sub>8</sub>通过内部连线短接。
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