发明名称 具有低漏电高发光效率的外延生长结构
摘要 本实用新型涉及一种外延生长结构,尤其是一种具有低漏电高发光效率的外延生长结构,属于半导体外延生长的技术领域。按照本实用新型提供的技术方案,所述具有低漏电高发光效率的外延生长结构,包括衬底及生长于所述衬底上的半导体发光结构;所述半导体发光结构包括生长于衬底上的缓冲层,所述缓冲层上生长有N型化合物半导体材料层,所述N型化合物半导体材料层上生长有有源层,所述有源层上生长有电子溢出阻挡层,所述电子溢出阻挡层上生长有P型化合物半导体材料层。本实用新型结构紧凑,发光效率高,低漏电且具有更强的抗击大电流能力,进一步降低了成本,更适合大尺寸外延片的生长,工艺方便,安全可靠。
申请公布号 CN204144303U 申请公布日期 2015.02.04
申请号 CN201420009213.6 申请日期 2014.01.07
申请人 江苏新广联科技股份有限公司 发明人 钟玉煌;郭明灿;冯雪瑞
分类号 H01L33/12(2010.01)I;H01L33/14(2010.01)I 主分类号 H01L33/12(2010.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 曹祖良
主权项 一种具有低漏电高发光效率的外延生长结构,包括衬底(1)及生长于所述衬底(1)上的半导体发光结构;其特征是:所述半导体发光结构包括生长于衬底(1)上的缓冲层,所述缓冲层上生长有N型化合物半导体材料层(6),所述N型化合物半导体材料层(6)上生长有有源层(7),所述有源层(7)上生长有电子溢出阻挡层(8),所述电子溢出阻挡层(8)上生长有P型化合物半导体材料层(9);所述缓冲层包括第一缓冲层(2)、第二缓冲层(3)、第三缓冲层(4)及第四缓冲层(5);第一缓冲层(2)、第二缓冲层(3)、第三缓冲层(4)及第四缓冲层(5)的厚度均为5~50nm;所述第一缓冲层(2)为AlN层,第二缓冲层(3)为GaN层,第三缓冲层(4)为AlGaN层,第四缓冲层(5)为GaN层;所述N型化合物半导体材料层(6)为N型GaN层;所述P型化合物半导体材料层(9)为P型GaN层。
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