| 发明名称 | 一种微波器件测试用压紧装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种微波器件测试用压紧装置，涉及半导体器件测试工具技术领域。包括压块和通过压块上的螺钉孔能与测试平台紧固的螺钉，所述压块绝缘材料构成，压块底面设有微波器件端脚压紧凸起和微波器件适配的器件凹槽。本实用新型能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧，保证微波器件测试的稳定性和准确性，以及微波器件的无损性，本实用新型结构简单、成本低廉、通用性强、易于实现，保证了相关科研生产顺利进行。 | ||
| 申请公布号 | CN204142769U | 申请公布日期 | 2015.02.04 |
| 申请号 | CN201420602752.0 | 申请日期 | 2014.10.17 |
| 申请人 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 发明人 | 默江辉;杨中月;李亮;崔玉兴;付兴昌;蔡树军;杨克武 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人 | 米文智 |
| 主权项 | 一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于包括压块（1）和通过压块（1）上的螺钉孔（6）能与测试平台紧固的螺钉（3），所述压块（1）由绝缘材料构成，压块（1）底面设有微波器件端脚压紧凸起（4）和微波器件适配的器件凹槽（5）。 | ||
| 地址 | 050051 河北省石家庄市合作路113号 | ||