发明名称 一种制备高质量氮化物的方法
摘要 本发明涉及一种制备高质量氮化物的方法,属于半导体技术领域。解决现有“侧向外延法”工艺复杂、环境要求苛刻、需要二次外延、成本昂贵且不利于大规模生产的技术问题。本方法包括(1)选取衬底材料;(2)利用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)直接生长外延材料;所述衬底材料与外延材料之间的晶格失配度为0.5%~10%。本方法能够一次性生长出低位错密度的高质量氮化物,具有工艺简单、生长周期短、材料质量好等优点,是实现氮化物材料高质量、低成本生长的有效手段,为实现高性能氮化物光电子器件和微电子器件奠定了基础。
申请公布号 CN104328488A 申请公布日期 2015.02.04
申请号 CN201410427266.4 申请日期 2014.08.26
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 黎大兵;孙晓娟;宋航;蒋红;李志明;陈一仁;缪国庆;张志伟
分类号 C30B25/18(2006.01)I;C30B29/40(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 C30B25/18(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 南小平
主权项 一种制备高质量氮化物的方法,其特征在于,包括:(1)选取衬底材料;(2)利用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)直接生长外延材料;所述衬底材料与外延材料之间的晶格失配度为0.5%‑10%。
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