发明名称 10KV开关柜剩余开关次数检测方法及其检测装置
摘要 本发明提供10KV开关柜剩余开关次数检测方法及其检测装置,通过天线阵列对开关投切时产生的瞬态电磁信号进行检测,实现对10KV开关柜的剩余开关次数的检测,一方面能够对开关柜的开关的剩余投切次数作出量化监测,不需要检测参数与理论参数进行比较,消除实际检测参数与理论参数比较的偏差,大大提高检测的准确性,利于工作人员对开关柜的工作状态进行把控,准确地作出状态判断,另一方面,不用打开开关柜就能进行准确监测,并且检测设备不会对开关的投切动作造成影响,提高检测的准确性。
申请公布号 CN104330724A 申请公布日期 2015.02.04
申请号 CN201410055039.3 申请日期 2014.02.18
申请人 国家电网公司;国网重庆市电力公司检修分公司 发明人 陈俊;谢林涛;杨帆;李磊
分类号 G01R31/327(2006.01)I 主分类号 G01R31/327(2006.01)I
代理机构 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人 谢殿武
主权项 一种10KV开关柜剩余开关次数检测方法,其特征在于:包括如下步骤:a.在10KV的开关柜外侧布置m个天线并形成天线阵列;b.在10kv的开关柜动作时,获取10KV开关柜的动作次数N并以采样频率f采集各天线的电流信号和电压信号;c.根据从天线获取的电流及电压信号,以公式<img file="FDA0000467081600000011.GIF" wi="542" he="118" />计算天线的接收能量,其中△t<sub>i</sub>=1/f;d.根据天线的接收能量计算10KV开关柜的绝缘放电强度系数K1和K2,其中k<sub>1</sub>=(W<sub>1</sub>‑W<sub>0</sub>)/N<sub>1</sub>,k<sub>2</sub>=(W<sub>2</sub>‑W<sub>1</sub>)/N<sub>2</sub>;其中,W<sub>0</sub>为设定的时点T0的天线接收能量,W<sub>1</sub>为开关柜工作一段时间T1之内的天线接收的能量,W<sub>2</sub>为开关柜在T1后的一端时间T2内天线接收的能量,N<sub>1</sub>为时间T1内开关柜动作次数,N<sub>2</sub>为时间T2内开关柜动作的次数;e.根据天线阵列的布置于开关柜的位置,以开关柜的断路器高压测触头为原点建立球坐标系(r,θ,φ),并根据公式W=∫Pdt计算开关柜动作一次天线阵列接收的能量W<sub>c</sub>;其中:<img file="FDA0000467081600000012.GIF" wi="326" he="121" /><maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>d</mi><mover><mi>S</mi><mo>&RightArrow;</mo></mover><mo>=</mo><mi>rd&theta;</mi><mi>r</mi><mi>sin</mi><mi>&theta;d&phi;</mi><msub><mover><mi>e</mi><mo>&RightArrow;</mo></mover><mi>r</mi></msub><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000467081600000013.GIF" wi="497" he="101" /></maths><maths num="0002" id="cmaths0002"><math><![CDATA[<mrow><msub><mover><mi>S</mi><mo>&RightArrow;</mo></mover><mi>av</mi></msub><mo>=</mo><mi>Re</mi><mo>[</mo><mover><mi>E</mi><mo>.</mo></mover><mo>&times;</mo><msup><mover><mi>H</mi><mo>.</mo></mover><mo>*</mo></msup><mo>]</mo><mo>=</mo><msub><mi>Z</mi><mn>0</mn></msub><msup><mi>I</mi><mn>2</mn></msup><mrow><mo>(</mo><mfrac><mi>&Delta;l</mi><mi>&lambda;</mi></mfrac><mo>)</mo></mrow><msup><mi>sin</mi><mn>2</mn></msup><mi>&theta;</mi><msub><mover><mi>e</mi><mo>&RightArrow;</mo></mover><mi>r</mi></msub><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000467081600000014.GIF" wi="914" he="160" /></maths>P为辐射功率,r为天线阵列与球形坐标原点距离,<img file="FDA0000467081600000015.GIF" wi="52" he="76" />从球形坐标系原点指向天线阵列的单位矢量,<img file="FDA0000467081600000016.GIF" wi="80" he="75" />表示天线阵列接收辐射功率的辐射面矢量,<img file="FDA0000467081600000017.GIF" wi="79" he="90" />为坡印廷矢量,<img file="FDA0000467081600000018.GIF" wi="56" he="74" />为电场强度矢量,<img file="FDA0000467081600000019.GIF" wi="70" he="74" />为磁场强度矢量,Z<sub>0</sub>为自由空间的波阻抗,I为开关柜断路器切断电流,△l为开关柜断路器高压侧触头与低压侧触头的距离,λ为电磁波波长;d.根据公式N<sub>c</sub>=(W<sub>c</sub>‑W<sub>2</sub>)/k<sub>c</sub>=(W<sub>c</sub>‑W<sub>2</sub>)/(2k<sub>2</sub>‑k<sub>1</sub>)计算开关柜剩余开关次数Nc,其中kc为开关柜动作一次的绝缘放电强度系数。
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