| 发明名称 | 一种微波器件测试用扭环 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种微波器件测试用扭环，涉及半导体器件测试技术领域。扭环外环壁的横截面为圆形，扭环内环壁的横截面为六边形，且与微波器件测试夹具输入、输出的同轴接头端子外形尺寸相适配，所述扭环的材质为聚四氟乙烯材料。本实用新型采用了带有网纹结构的聚四氟乙烯扭环，成功解决了测试夹具在测试过程中存在的连接不紧密的问题，保证器件测试稳定性、准确性及无损性，其制作成本低，易实现，保证了相关科研生产顺利进行。 | ||
| 申请公布号 | CN204142776U | 申请公布日期 | 2015.02.04 |
| 申请号 | CN201420655369.1 | 申请日期 | 2014.11.05 |
| 申请人 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 发明人 | 李亮;默江辉;崔玉兴;付兴昌;蔡树军;杨克武 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人 | 米文智 |
| 主权项 | 一种微波器件测试用扭环，其特征在于：扭环外环壁（2）的横截面为圆形，扭环内环壁（3）的横截面为六边形，且与微波器件测试夹具输入或输出的同轴接头端子外形尺寸相适配，所述扭环（1）的材质为塑料或木质。 | ||
| 地址 | 050051 河北省石家庄市合作路113号 | ||