发明名称 零件高度尺寸测量方法及测量工装
摘要 本发明提供一种零件高度尺寸测量方法及测量工装,将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上,记录测量千分表的刻度值A,标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐,标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸;将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上,读出测量千分表的刻度值B;将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和,得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。上述测量方法不需要任何制式量具即可对零件的上、下基准面之间的高度尺寸进行快速、高精度的测量,使用方便。
申请公布号 CN104330009A 申请公布日期 2015.02.04
申请号 CN201410552059.1 申请日期 2014.10.17
申请人 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 发明人 耿全堂
分类号 G01B5/02(2006.01)I 主分类号 G01B5/02(2006.01)I
代理机构 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人 胡伟华
主权项 零件高度尺寸测量方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上,记录测量千分表的刻度值A,标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐,标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸;(2)将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上,读出测量千分表的刻度值B;(3)将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和,即可得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。
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