发明名称 一种激光加工测控仪器
摘要 本实用新型属于测控仪器领域,尤其涉及一种激光加工测控仪器,其特征在于:所述激光传输通路包括依次排列的激光发生器、校正双棱镜、通路聚焦透镜A、倍频晶体、耦合镜、准直镜、通路聚焦透镜B,所述激光传输通路包括依次平行排列的激光传输通路A、激光传输通路B、激光传输通路C,所述X棱镜位于所述激光传输通路B的一侧并且其夹设于所述反射镜A、反射镜B之间,所述反射镜A位于所述激光传输通路A的一侧,所述反射镜B位于所述激光传输通路B的一侧,所述聚焦透镜位于所述X棱镜、工件加工位之间,所述X棱镜、激光传输通路B的中心在同一直线上,所述观测目镜、双普罗棱镜、五棱镜、反射镜C、物镜依次排列形成观测通路。
申请公布号 CN204135552U 申请公布日期 2015.02.04
申请号 CN201420525291.1 申请日期 2014.09.15
申请人 天津市爱恩爱尔科技有限公司 发明人 王守松
分类号 B23K26/03(2006.01)I;B23K26/064(2014.01)I 主分类号 B23K26/03(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种激光加工测控仪器,其特征在于:包括机壳、滑动导轨,所述滑动导轨固定于所述机壳的一侧,所述滑动导轨上设置有工件加工位、工件观测位,所述机壳的内部固定有激光传输通路、反射镜A、反射镜B、X棱镜、聚焦透镜、观测目镜、双普罗棱镜、五棱镜、反射镜C、物镜,所述激光传输通路包括依次排列的激光发生器、校正双棱镜、通路聚焦透镜A、倍频晶体、耦合镜、准直镜、通路聚焦透镜B,所述激光发生器、校正双棱镜、通路聚焦透镜A、倍频晶体、耦合镜、准直镜、通路聚焦透镜B的中心在同一直线上,所述校正双棱镜、倍频晶体分别位于所述通路聚焦透镜A的焦点处,所述准直镜位于所述通路聚焦透镜B的焦点处,所述激光传输通路包括依次平行排列的激光传输通路A、激光传输通路B、激光传输通路C,所述X棱镜位于所述激光传输通路B的一侧并且其夹设于所述反射镜A、反射镜B之间,所述反射镜A位于所述激光传输通路A的一侧并且其倾斜角度为45°,所述反射镜B位于所述激光传输通路B的一侧并且其倾斜角度为45°,所述反射镜A、反射镜B的镜面相对设置,所述聚焦透镜位于所述X棱镜、工件加工位之间并且X棱镜、工件加工位分别位于聚焦透镜的焦点处,所述X棱镜、激光传输通路B的中心在同一直线上,所述观测目镜、双普罗棱镜、五棱镜、反射镜C、物镜依次排列形成观测通路,所述反射镜C的倾斜角度为45°,所述物镜位于所述工件观测位的一侧。
地址 300000 天津市静海县子牙镇大邀铺村南500米