发明名称 半导体装置
摘要 包括致能产生电路(10),产生与时脉信号同步的脉冲列之致能信号,对保护对象电路(30)供给致能信号;以及第1异常检出电路(20),根据时脉信号与致能产生电路产生的致能信号的比较,检出对时脉信号导入尖峰引起的时脉时序异常;因此得到能够检出局部时脉异常的半导体装置。
申请公布号 TW201504846 申请公布日期 2015.02.01
申请号 TW102140422 申请日期 2013.11.07
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 菅原健
分类号 G06F21/71(2013.01);G06F11/28(2006.01);H03K5/19(2006.01) 主分类号 G06F21/71(2013.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本
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