ＢＧＡ晶片的测试治具

主权项

一种BGA晶片的测试治具，包含：测试母具，具有第一网格区域，提供待测试的第一BGA晶片安置用；测试单元，设置于所述之测试母具下方；具有弹性探针，于测试时，电性耦合至所述之BGA晶片；以及测试子具，具有定位开口；所述之定位开口，系小于所述之第一网格区域者；当测试子具放置于所述之第一网格区域时，定义出第二网格区域，提供待测试较小尺寸的第二BGA晶片安置测试用；其中，所述之第一网格区域与所述之第二网格区域，系在同一网格上区隔出不同的使用区域者。